硅层中的监视器位置以及对应的监视数据


#1

如上传的图片所示,在硅层中添加的监视器,所检测到的是沿Y轴入射的光的透射率吗? 还是透射光与底层边界(紫色图层)的反射光的叠加?
如果想检测底层(紫色图层)的发射率,该如何添加监视器? 谢谢!


#2

你现在的硅层是一个腔体,里面是谐振的场分布,里面有无限次的反射,将监视器加在里面没有意义;
因为下面是空气,监视器可以添加到下面的人一地方,透射率不变。你说的发射率是指透射率吗?


#3

实际上,我是想了解:如果我想看最底层(紫色图层,实际上也同样是硅,只是为了标注方便涂成了紫色)的反射率(上面打错了,误成了发射率) ,应该如何添加监视器。 如果整个硅层内部形成了谐振腔,那么是不是没办法知道底层的硅的放射率了? 图中的监视器采集到的数据是光从空气入射后的透射率和硅层内部的无数发射的叠加吗 ?


#4

你可能需要想清楚你是要单个界面的反射率透射率,还是这个结构的。如果是单界面的,空气到硅和硅到空气的强度或者功率反射率透射率是一样的,你只要做一个仿真就可以。如果要振幅反射和透射系数,可以根据菲涅尔公式中的关系得到。
对于你画的这个结构,你应该是对这个结构的反射率透射率,不能得到下表面的单次反射率透射率。
你再考虑一下。